ЦТМ
Метрология
Анализ метрологических характеристик получаемых объектов и применяемых устройств необходим в любом высокотехнологичном производстве.
Nikon Eclipse LV150N
Инспекционный микроскоп
FluoroMax 4 HORIBA
Универсальный спектрофотометр/ спектрофлюориметр
Keithley Instruments 2636B
Источник-измеритель
SemiProbe PS4L
Зондовая станция
Bruker ContourGT-K
Профилометр
НТ-МДТ Ntegra Spectra
Зондовая нанолаборатория (AFM+Raman)
Nikon Digimicro MF-501
Цифровой микрометр